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Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。
甲烷非甲烷總烴檢測儀是一種甲烷非甲烷總烴分析儀，除了具有基于常規(guī)色譜儀的分離和測量系統(tǒng)外，AR2300-710F甲烷非甲烷總烴分析儀提供了靈活的觸摸屏式操作軟件、自動校準(zhǔn)和測量功能。
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